LGD®具有以下优势:

  • 由于偏压电压低,“天线效应”低。
  • 增加的平均自由程。
  • 更好的蚀刻穿透力,从而改善沟槽内的蚀刻。

屏蔽罩的使用

屏蔽罩遮蔽靶材,将靶材与腔室内的等离子体隔离开来。这样在工艺上让我们可以对靶材做分开单独处理:

  • 在不污染被涂工件的情况下,通过靶材后方的屏蔽罩点燃靶材表面起弧来清洁靶材。
  • 只有在靶材被清洗后才打开屏蔽罩,这为最佳的涂层结合力提供了理想的条件,并且可以使用纯净的、未受污染的靶材材料进行涂层。
LGD etching technology

3D 刻蚀指示器

我们的专利3D蚀刻指示器是一种直观检查和量化等离子体蚀刻效率的方法。 这种方法优化了柄状刀具、齿轮刀具、模具甚至复杂几何形状工件的专用工艺和参数的开发。
  • 提供等离子体蚀刻效果的3D轮廓。
  • 防止刻蚀过弱或过强。
  • 提高涂层在意向应用中的性能。

Interference color scale from [1] Antończak, A. J., et al. (2014). The influence of process parameters on the laser-induced coloring of titanium. Applied Physics A, 115(3),1003 – 1013

Interference color scale

为了生成3D蚀刻轮廓,首先在样品上涂上仅均匀反射单一干涉颜色(例如蓝色)的层。随后,这些样品在规定的时间内进行等离子体蚀刻。

由于涂层的干涉颜色与其厚度直接相关,因此在表面上任何一点产生的颜色都可以用于高分辨率(±5nm)确定该特定位置的蚀刻效果。因此,PLATIT的3D蚀刻指示器能够选择正确的蚀刻参数组合,并确保所选的蚀刻策略能够从表面获得最佳的材料去除。

虽然通常只能进行等离子体蚀刻的一维或二维测量,并且优化需要对每个单独的参数集进行单独的工具测试,但在3D蚀刻指示器的帮助下,在等离子体蚀刻测试后,蚀刻效果已经可以用肉眼立即看到。

Inhomogeneous removed material
Dedicated etching optimization

该图显示了微工具等离子体刻蚀的目标优化结果。与常用的标准蚀刻相比,三维蚀刻的毛刺高度明显降低。

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